| 是否进口：否 | 加工定制：是 | 品牌：德国Fischer |
| 型号：XULM/XDL-B | 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素17-92 |
| 测量时间：自己调整 | 测量精度：误差不大 | 电源电压：220VHZ |
| 适用范围：金属元素 |
XDAL,XDVM菲希尔（FISCHER）膜厚仪,XRF镀层厚度分析仪配创新的X射线光学系统,专门测量极小的面积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等 符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的***度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希尔XUL（M）膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们锦霖公司始终的目标.
联系人：谢生 ：186 8233 5195
地址：深圳市宝安区沙井新桥洋下大道8号凯悦大厦1704
