| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 品牌：Fischer |
| 型号：XULM/XDL-B | 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素17-92 |
| 测量时间：自己调整 | 测量精度：误差不大 | 电源电压：220VHZ |
| 适用范围：金属元素 |
XULM-XYM菲希尔(FISCHER)膜厚测试仪测量电镀、蒸镀
、离子镀 沉金等各种金属镀层的厚度，它的出现解决
了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，
芯片和连接器等带来的挑战。X-射线光学可以使得在
很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在
小到几微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多
元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在
非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。强大的
WINFTM软件加上最精准的FP数学测量方法,使同行业无
法比美,锦霖在中国大陆华南区代理菲希尔/膜厚
仪,主营XDL XUL XAN XDLVP系列．菲希尔/膜厚仪，此
仪器特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细
小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行
业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层
等多种镀层．深圳锦霖以***的服务．为您提供
的解决方案菲希尔XuLM膜厚测试仪应用于.五金,电镀,
端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们锦霖
公司始终的目标.
谢生 18682335195
地址：深圳宝安沙井洋下大道8号1704
