| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 品牌：Fischer |
| 型号：XULM/XDL-B | 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素17-92 |
| 测量时间：自己调整 | 测量精度：误差不大 | 电源电压：220VHZ |
| 适用范围：金属元素 |
德国菲希尔公司的X射线荧光镀层膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款较为高端的x射线镀层测厚仪，测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析，也可以进行电解溶液含量成份分析，带有国家环保局豁免证书，无放射源设计，安全环保。X射线荧光镀层膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237主要测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。
德国菲希尔公司的X射线荧光镀层膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款应用广泛的能量色散型x射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产控的最合适的测量仪器。典型的应用领域有： 测量微小区域上的薄镀层 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层 全自动测量，如测量印刷线路板 本公司专业维修膜厚仪X光管更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手FISCHER膜厚仪等等锦霖公司
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