| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 品牌：Fischer |
| 型号：XULM/XDL-B | 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素17-92 |
| 测量时间：自己调整 | 测量精度：误差不大 | 电源电压：220VHZ |
| 适用范围：金属元素 |
使用设备FISCHERSCOPE? X-RAY XUL? 和 XDL? 确定电
镀液的金属离子浓度使用 FMP 系列设备对电镀层进行
测量使用 FISCHERSCOPE? HM2000 确定在微米范围内
的涂层显微硬度使用 PICODENTOR? HM500 确定在纳米
范围内的涂层显微硬度使用 PHASCOPE? PMP10 测量小
部件的涂层厚度，例如螺栓、螺母和销钉，测量时不
受测量件几何形状和表面粗糙度的影响。使用
FISCHERSCOPE? MMS? PC2 在自动化生产流程中测量不
同涂层系统的涂层厚度使用 COULOSCOPE? CMS 可以对
任意基底上的几乎所有金属层进行厚度测量使用
FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-SDD 确定在纳米范围内的
电镀涂层厚度，例如电气设备中的 Au/Pd/基底，或是
确定 NiP 涂层中的磷含量使用 FISCHERSCOPE? X-RAY
4000 在生产流程中测量冲压件和电镀件上的涂层厚度
使用 FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-μ测量小于 100 μ
m 的结构和特别小的测量直接地电路板检测 FISCHER
是您确保电路板质量的合作伙伴。 为您提供全面
的产品范围，用于测量所有实践中接触到的涂层厚度
并进行分析。 即使是复杂的多层和合金涂层系统，采
用进技术设计的 Fischer 设备也可以简单、快速
和***的进行测量和分析。本公司专业维修膜厚仪X光
管更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手
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