是否进口:否 | 加工定制:否 | 品牌:Fischer |
型号:XULM/XDL-B | 类型:多元素分析仪器 | 测试范围:元素17-92 |
测量时间:自己调整 | 测量精度:误差不大 | 电源电压:220VHZ |
适用范围:金属元素 |
使用 FISCHERSCOPE? XDLM? 237. 测量小型结构上的
涂层厚度使用 FISCHERSCOPE? XDV?-SDD. 测量至纳米
范围内的极薄涂层,例如 Au 和 Pd,并确定焊锡中的
铅含量以检测 RoHS 一致性使用 FISCHERSCOPE?
XDV?-μ. 测量具有极小测量点的最小结构上的涂层厚
度。使用 FISCHERSCOPE? MMS?-PC2. 确定非蚀刻或蚀
刻电路板上铜层和阻焊层的厚度,确定钻孔中的铜厚
度使用 PHASCOPE? PMP10.确定非蚀刻或蚀刻电路板上
铜层厚度,确定钻孔中的铜厚度。使用
FISCHERSCOPE? MMS?-PC2 或SR-SCOPE? RMP30-S. 确
定多层或薄板上的铜层厚度,而不受对面同层的影响
。使用 COULOSCOPE? CMS. 确定化学镀锡电路板上的
残余锡层厚度。使用 PICODENTOR? HM500.确定电路板
上镀金触点的显微硬度.本公司专业维修膜厚仪X光管
更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手
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