| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 品牌：Fischer |
| 型号：XULM/XDL-B | 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素17-92 |
| 测量时间：自己调整 | 测量精度：误差不大 | 电源电压：220VHZ |
| 适用范围：金属元素 |
FISCHER XULM-XYM镀层厚度测量仪是针对高要求用户
设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线
路板上极微细的表面结构，它的新颖专利X－射线光学
镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非
常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米
的面积的结构也变成可能。镀层膜厚仪配备了半导体
接收器适合测量薄到数NM的镀层，FISCHERSCOPE X-
RAY XDVM测厚仪，还能测量出范围从元素氯（Z＝13）
至铀（Z ＝92）。镀层膜厚仪主要应用于线路板测试
、极细的铅框一片片的扫描（***面积），如：硬盘
镀层、细微的线。有极高精度，可编程的XYZ测量台及
大移动范围，测量室为长方形内槽设计，深圳金霖公
司代理FISCHER中国华南地区销售和服务，我们能提供
最准确的仪器满足您的测量需要，其中便携式测厚仪
被广泛的应用于涂料、油漆、喷涂、电镀等化工行业
以及线路板行业。本公司专业维修膜厚仪X光管更换
还可为客户测试对比样品 出售/回收二手FISCHER膜厚
仪等等今天，在科技飞速发展的时代，对品质的要求
也越来越高，菲希尔（fischer）可以达到您的要求，
***并提高你的产品品质。菲希尔（fischer）将与您
携手共进。
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