| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 品牌：Fischer |
| 型号：XULM/XDL-B | 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素17-92 |
| 测量时间：自己调整 | 测量精度：误差不大 | 电源电压：220VHZ |
| 适用范围：金属元素 |
FISCHERSCOPE? X射线测试仪有全系列的X-射线供
应。
所有的设备遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497
等国家和***。 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚
度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验
。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的***处
理和使用了***的软件和硬件技术，FISCHER公司的X
射线仪器具有其独特的特点。
的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））
软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准
并***一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，
同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用
WinFTM? V.6软件）
典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，
Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如
Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。X射线测试仪
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谢生 18682335195
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