| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 品牌：Fischer |
| 型号：XULM/XDL-B | 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素17-92 |
| 测量时间：自己调整 | 测量精度：误差不大 | 电源电压：220VHZ |
| 适用范围：金属元素 |
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X-RAY XDLM-** XMDVM-T7.1W XDL-B XUL XULM XDV-u
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中闲置或需要更新换代的膜厚测试仪及ROHS膜厚测试
仪。
德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪
德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪介
绍：适用于Windows?2000或Windows? XP的真Win32位
程序带在线帮助功能。 频谱库中允许创建从元素钛
至铀的任何一种新的产品。 能通过“应用工具箱”(
由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应
用的校准简单化。 画中画测试件查看和数据显示，
带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻
度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光
束的大小取决于测量的距离，见背面）图形化的用户
界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 对试
件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法
）范围可达80mm(3.2〞)
德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪特
点：
FISCHERSCOPE? XDL?-B是一款基于Windows? 的镀层厚
度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下
。 XDL?-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法
（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光
谱强度的差别。对于XDL?-B 带测量距离固定的X-射线
头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和
不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微
波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。德国菲希
尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪技术参数：
.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准
DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方
法；原始射线从上至下； X-射线管高压设定可调节
至的应用：50kV，40kV或30kV； 单个0.3mm直径
(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择
0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm;
或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。测量箱外部尺寸：
（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22
〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 带槽箱
体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500
mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 嵌入式
固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的
超出尺寸的测试工件。 从X-射线头部（X-射线管，
成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板
有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面
）必须在定货时明确（标准设定：中间位置） 试件
查看用彩色摄像机.带有LED状态指示灯的测量开始/结
束按钮与测试箱集成在一体。有意者可随时打电话询
问。
谢生 ：186 8233 5195
地址：深圳宝安沙井洋下大道8号凯悦大厦1704
